Abstrato

Estudos sobre as propriedades estruturais, ópticas e eléctricas de filmes finos de óxido de manganês (MnO2) depositados por pulverização

Bhargande SK e Patil PS

Os filmes finos de óxido de manganês foram preparados por decomposição pirolítica do acetato de manganês como solução precursora sobre os substratos de vidro. Os filmes finos de MnO2 foram depositados a três temperaturas diferentes, nomeadamente 200, 250, 3000C. Os filmes depositados eram amorfos e porosos com uma espessura de 200-300 nm. Os filmes finos foram posteriormente recozidos a 5000ºC ao ar durante 2 horas. Foram estudadas as propriedades estruturais, óticas e elétricas do MnO2. Filmes finos policristalinos com estrutura cúbica evidenciados pelo padrão de difração de raios X. As propriedades elétricas foram estudadas através de medidas de resistividade elétrica e potência termoelétrica (TEP). Os estudos de resistividade elétrica foram realizados através do método de duas sondas. Os estudos TEP mostram que os filmes apresentam uma condutividade do tipo n. Os dados de absorção ótica foram utilizados para determinar a energia do gap (indireto) e verificou-se que aumenta com o aumento da temperatura